| 针对IGBT寿命预测问题,提出了基于思维进化算法 (MEA)优化的反向传播 (MEA-BP)神经网络算法的 IGBT结温预测算法模型,确定了集电极-发射极关断电压尖峰峰值为失效预测依据,构建了遗传算法 (GA)优化的 BP (GA-BP)神经网络算法以及经典 BP神经网络算法寿命模型作为对比模型,采用均方误差、平均绝对误差、最大 相对误差作为各模型预测性能的评估指标.预测结果表明,基于 MEA 神经网络的IGBT 寿命预测模型均方误差为0.150％,平均绝对百分误差为0.36％,可以更好地实现IGBT寿命的预测. |
