| 陈祖祥,田志强,张梦楠,袁庚,李春茂.热老化对EPDM电树枝局放特性的影响研究[J].电工技术,2021(19):141-146 |
| 热老化对EPDM电树枝局放特性的影响研究 |
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| DOI：10.19768/j.cnki.dgjs.2021.19.041 |
| 中文关键词: 三元乙丙橡胶 热老化 电树枝 局放 陷阱特性 电荷积聚 |
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| 中文摘要: |
| 电树枝生长过程中常伴随有局放发生，其与电树的发展有极大关系，并会导致绝缘出现不可逆的损伤。为此，在140 ℃下对三元乙丙橡胶（EPDM）绝缘试样进行了梯度加速热老化，并对不同老化程度试样开展了电树枝观测试验，采集了电树枝生长过程的局放信号，结合陷阱参数测试分析了热老化对EPDM电树枝局放特性的影响机理。结果表明：老化前期，电树枝发展表现为4个阶段，而老化后期为2个阶段；未老化EPDM电树枝放电相位分布在-50~90°与130~270°内，且正半周放电更剧烈；局放随电树枝的延伸同样呈现一定的阶段性变化，且随老化时间增加，放电量、放电次数与放电总能量先降低后大幅增加；陷阱测试显示，陷阱密度及能级随热老化时间先减小后增大，绝缘内部电荷聚集，对局放有极大影响。 |
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