谌娟,于凯,安军鹏.CRH５型动车组用IGBT器件寿命评估∗[J].电工技术,2022(22):102-104
CRH５型动车组用IGBT器件寿命评估∗
  
DOI：10.19768/j.cnki.dgjs.2022.22.032
中文关键词:  IGBT器件寿命  CRH５型动车组  饱和压降  焊层超声波扫描  键合点推力
英文关键词:
基金项目:
作者单位
谌娟 西安理工大学自动化学院 
于凯 中车永济电机有限公司技术中心 
安军鹏 中车永济电机有限公司技术中心 
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中文摘要:
      半实物仿真计算结果表明,CRH５型动车组四象限整流侧IGBT器件寿命长于逆变侧,机车频繁进站会降低 IGBT器件寿命.典型线路计算时,最小寿命约为７８０万 km.与寿命相关的测试表明,与全新同型号IGBT器件相比,运行４８０万km 的IGBT器件芯片及 DBC焊层超声波扫描未出现分层现象.饱和压降及键合点推力测试表明,键合线根部已经出现裂纹,导致饱和压降平均值比全新增加０．１９６％,IGBT芯片键合线推力均值由全新的２８００g降低 到２４００g,FRD芯片键合线推力均值由全新的２８００g降低到２６００g及２３００g,退化后的测试电学参数均在额定值以内,未达到寿命失效标准.这些研究结果对寿命预测结果进行了初步的验证。
英文摘要:
      
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