黄家俊,霍银龙,陈从靖,臧佳.电力设备中FPGA单粒子效应研究[J].电工技术,2023(4):83-85
电力设备中FPGA单粒子效应研究
  
DOI：10.19768/j.cnki.dgjs.2023.04.025
中文关键词:  电力设备  单粒子效应  单粒子翻转  单粒子锁存  FPGA
英文关键词:
基金项目:
作者单位
黄家俊 南京国电南自电网自动化有限公司 
霍银龙 南京国电南自电网自动化有限公司 
陈从靖 南京国电南自电网自动化有限公司 
臧佳 南京国电南自电网自动化有限公司 
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中文摘要:
      FPGA 在电力设备中大规模应用后,其长时间运行的可靠性一直受到单粒子效应的影响.宇宙射线中的高能粒子穿过大气层后,会在FPGA 芯片中造成单粒子翻转、单粒子锁存等故障.针对以上现象,分析了单粒子效应的形 成机理及影响因素,计算了常用FPGA 芯片的单粒子翻转故障概率.以需要长时间稳定运行的电力设备为对象,提出了芯片防护、系统防护、逻辑备份、数据校验、硬件检测等缓解方法.结果表明,这些措施可以有效减少 FPGA 中因单粒子效应而产生的故障.
英文摘要:
      
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