万宇宾,刘红文,杜京润,李佳怡,周瑞睿.结温导向的两电平逆变器寿命优化控制∗[J].电工技术,2023(8):147-151
结温导向的两电平逆变器寿命优化控制∗
  
DOI：10.19768/j.cnki.dgjs.2023.08.038
中文关键词:  结温  寿命  模型预测电流控制  IGBT  损耗因子
英文关键词:
基金项目:
作者单位
万宇宾 中车株洲电力机车研究所 
刘红文 中车株洲电力机车研究所 
杜京润 中南大学交通运输工程学院 
李佳怡 中南大学交通运输工程学院 
周瑞睿 中南大学交通运输工程学院 
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中文摘要:
      结温是影响IGBT (Insulated-GateBipolarTransistor)寿命的关键因素,为了延长两电平逆变器寿命,提出 一种改进的模型预测电流控制 (ModelPredictiveCurrentControl,MPCC)策略.首先,针对功率损耗产生原理,建 立IGBT的损耗因子;其次,考虑三相电流方向和不同功率管的导通情况,在IGBT 开关和导通时刻加入不同的损耗 因子,控制功率损耗的产生.通过仿真验证,相比传统模型预测电流控制和空间矢量脉宽调制策略,所提方法在保证 控制性能的同时降低了功率器件结温,延长了寿命.
英文摘要:
      
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