徐英花,吴勇峰.GIS中典型缺陷引起的局部放电的固有特征研究[J].电工技术,2024(15):179-181
GIS中典型缺陷引起的局部放电的固有特征研究
  
DOI：10.19768/j.cnki.dgjs.2024.15.046
中文关键词:  GIS设备  局部放电  特高频信号  频谱特征  相位分布
英文关键词:
基金项目:
作者单位
徐英花 湖南工程学院 
吴勇峰 湖南工程学院 
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中文摘要:
      局部放电(PD)监测对GIS设备的维护起着重要作用，特高频(UHF)检测方法因其高灵敏度和抗干扰能力强而引起了许多研究者的极大兴趣。研究了GIS设备中四种典型缺陷的固有特征，如频谱特征和相位分布，探讨了四种典型缺陷模型的固有特征。研究结果显示了局部放电的基本特征有助于提高特高频检测方法的灵敏度和抗干扰能力。
英文摘要:
      
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