秦金光.相控阵检验技术在低压转子检测中的应用[J].电工技术,2025(2):171-174
相控阵检验技术在低压转子检测中的应用
  
DOI：10.19768/j.cnki.dgjs.2025.02.046
中文关键词:  低压转子  相控阵  无损检验
英文关键词:
基金项目:
作者单位
秦金光 中核运维技术有限公司 
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中文摘要:
      低压转子采用常规超声检验方法只能检查表面缺陷，而对于经验反馈中提到的叶根内部缺陷则难以检测到。利用超声相控阵检验技术，即开发低压转子末级、次末级叶根相控阵检验技术体系，检测叶片根部可能存在的缺陷。该技术体系主要包括相控阵试块研制、专用检测探头研制及检测技术开发等。
英文摘要:
      
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